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功能：
主要用于样品表面的形貌分析、化学成分分析和晶体结构分析。SEM能够提供快速的样品表面图像，适合快速检测和初步结构观察。
特点：
操作简便，成像速度快，适合现场快速分析和样品制备要求不高的情况。
应用场景：
适用于快速检测样品表面特征，如粗糙度、污染物检测等。
透射电子显微镜（transmission electron microscope，TSE）是利用透射电子成像，因而要求样品极薄厚度不能超100nm。其结构包括三大部分：电子学系统、真空系统和电子光学系统。通过电子束扫描样品表面，收集散射电子（如二次电子、背散射电子）来成像。
